导通电阻和Qg更低,有助于实现更低功耗

标签:ROHMtrrFRD
分享到:

ROHM在以业界最快的trr(反向恢复时间)著称的PrestoMOS产品阵容中又新增了“R60xxMNx系列”产品。PrestMOS与标准的超级结MOSFET相比,trr减少约60%,从而大大降低了开关损耗,促进了白色家电和工业设备等电机驱动器和变频器应用的低功耗化发展。R60xxMNx系列新品是以“不仅保持现有R60xxFNx系列的高速trr性能,还要进一步降低导通电阻和Qg(栅极总电荷量)并降低损耗”为目标开发而成的。一般而言,导通电阻和Qg存在权衡关系,但利用ROHM独有的工艺技术和优化技术优势,实现了两者的高度平衡。
※PrestoMOS是ROHM的商标。

1

开关损耗和传导损耗更低

R60xxMNx系列不仅保持了ROHM独有的PrestoMOS高速trr性能,还大大降低了导通电阻和Qg。在搭载变频器的空调等电机驱动应用案例中,与使用IGBT的情况相比,轻负载时的功率损耗可减少约56%。这对于近年来的APF(全年能效比)来说取得了非常显著的改善效果。是一款高速trr使开关损耗降低、导通电阻更低使传导损耗降低、Qg更低使驱动电流降低、而且高速性能更佳的系列新品。

2

逆变器和电机驱动器电路无需FRD

如前所述,该系列产品的trr比以往的标准型超级结MOSFET减少了60%。这得益于内部二极管trr特性的显著改善。特别是逆变器电路和电机驱动器电路的再生电流带来的换流损耗取决于trr。普通的MOSFET和IGBT由于内部二极管的trr慢、损耗增加而需要外置2个FRD(快速恢复二极管)。而PrestoMOS由于trr快、损耗更低当然就不需要再外置2个FRD。

3

相关资讯
碳化硅(SiC)肖特基二极管零反向恢复特性与CRM升压变换器效率验证

碳化硅(SiC)肖特基二极管凭借零反向恢复特性,可消除临界导通模式(CRM)升压变换器的高频换流损耗。测试表明,该方案使整机效率稳定突破99%,逼近拓扑理论极限。CRM升压变换器广泛应用于新能源功率因数校正(PFC)、光伏直流升压等场景。其软开关特性可有效降低硬开关拓扑的器件损耗。但传统硅基快恢复二极管存在固有反向恢复效应。 硅基二极管在高频换流中会产生明显的反向恢复损耗与关断震荡。这成为制约CRM变换器效率突破的核心瓶颈。硅基器件的载流子存储效应无法消除,存在不可逾越的效率上限。相比之

LDO静态电流与瞬态纹波优化:超低功耗IoT节点电源策略

超低功耗物联网(IoT)节点电源设计的核心,在于平衡低压差线性稳压器(LDO)静态电流与负载瞬态输出电压纹波。本文剖析二者制衡机理,提出动态偏置选型、复合滤波与工况自适应调控策略,实现微安级待机与瞬态低纹波优化。

IGBT-IPM寄生电感干扰伺服驱动死区自适应及过温降额协同设计

IGBT智能功率模块(Intelligent Power Module, IPM)内部寄生电感会引发高频开关时序偏移与动态温升偏差,导致伺服驱动死区时间自适应补偿失准。构建死区精准补偿与动态过温降额协同设计方案,可有效解决控制精度与热稳定性的制衡矛盾。高精度伺服驱动系统依托矢量控制、高频脉冲宽度调制(Pulse Width Modulation, PWM)与死区时间自适应补偿技术,实现电机转矩精准输出与转速平稳调控。

软恢复快速恢复二极管抑制图腾柱PFC电路CM/DM噪声路径解析

软恢复型器件通过优化芯片少子寿命分布与PN结结构,平缓关断瞬态突变过程,削弱高频扰动生成强度。本文解析图腾柱PFC电路CM/DM噪声的生成机理,对比软硬恢复二极管的瞬态开关特性,阐明软恢复特性对两类噪声的分层抑制路径与底层物理机制。

开关二极管反向恢复频谱对高速时钟分配网络干扰建模

开关二极管(Switching Diode)的少子寿命(Minority Carrier Lifetime)直接决定其反向恢复波形与高频频谱特征,进而通过寄生耦合引发高速时钟分配网络(High-Speed Clock Distribution Network)的时序抖动与相位偏移。本文建立从半导体物理机理到频谱干扰的系统模型,为高速时序系统的低干扰设计提供理论支撑。

精彩活动