ESD静电放电导致元器件设备故障分析

jksemi · 发表于 2021-7-21 16:25:08

ESD造成元器件失效

带电物体通过器件形成一个放电通路时或带电器件本身有一个放电通路时，就会产生ESD而造成器件的失效，失效模式有突发性完全失效和潜在性缓慢失效。

（1）突发性完全失效：器件的芯片介质击穿或烧毁、一个或多个电参数突然劣化，完全失去规定功能的失效。通常表现为开路、短路、以及电参数严重漂移。概率约10%

(2)潜在性缓慢失效：器件受到ESD造成轻微损伤，器件的性能劣化或参数指标下降而成为隐患，使该电路在以后的工作中，参数劣化逐渐加重，最终失效。概率约90%

ESD引起信息出错，导致设备故障

ESD会在设备各处产生一个幅值为几十伏的干扰脉冲，引起信息出错，导致设备的故障：ESD也可产生频带几百千赫～几十兆赫、电平高达几十毫伏的电磁脉冲干扰。当脉冲干扰耦合到敏感电路时，也会引起信息出错，导致设备的故障。

高压静电吸附尘埃微粒

静电电荷易吸附尘埃微粒，污染PCB板和半导体芯片，使其绝缘电阻下降，影响器件工作。严重时会引起器件故障（例如：CMOS电路发生闩锁）。

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stary666 · 发表于 2021-7-24 20:31:46

stary666 · 发表于 2021-7-24 20:32:17

stary666 · 发表于 2021-7-24 20:32:36

stary666 · 发表于 2021-7-24 20:33:04

stary666 · 发表于 2021-7-24 20:34:39

stary666 · 发表于 2021-7-24 20:35:15

stary666 · 发表于 2021-7-24 20:40:54

看看

stary666 · 发表于 2021-7-24 20:42:18

不错

stary666 · 发表于 2021-7-24 20:42:47

加油

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