【罗姆 P02SCT3040KR-EVK-001】评估板开箱+性能测试②
书接上文：上一篇在这。上一篇总体写了开箱跟一些性能测试，今天咱们在多少展开进行讲讲吧。
根据P02SCT3040KR-EVK-001的手册来看，我们把板载的一些接口的连接方式给大家说一下。具体的引脚对于怎么接下方一个图今本上都能概述完整了。
另外这是哥碳化硅的板子，你在栅极电阻这部分需要按照下方进行设置，方便你自己来测试。
下边展示的就是上电和掉电顺序了，你可以参考着来：
上一篇简单的测试已经做过了
下边在测几个实验数据吧，对这个板子的负载电感进行测量，实数显示还是不错的。
下边就是对于升压降压之后的测试，这次示波器忘记带回来了，第一篇有提到，今天就展示这几个数据吧。
好了，测试完毕了，后边有新的测试内容我再讲讲，总之，罗姆的碳化硅MOSFET评估板P02SCT3040KR-EVK-001是一款功能强大且性能出众的评估板。它采用了沟槽栅结构的碳化硅MOSFET，具有高速开关性能和优异的能量转换效率。评估板在高负载情况下仍能保持较高的效率，非常适用于高效率要求的应用。同时，它具备丰富的接口和扩展选项，方便连接外部设备和其他硬件模块，为用户提供了更多的应用扩展性。此外，评估板的电源管理功能出色，能够实现高效、稳定的供电，保证系统的稳定运行。在可靠性和稳定性方面，评估板经过长时间的运行和负载测试，表现良好，具有高度的可靠性。
板卡试用区