低电流LED

1308 观看 上传于 2022-10-17

罗姆拥有多款低电流LED,可应用于工业设备以及可穿戴设备领域。近日,面向包括PLC等控制装置在内的FA设备、调制解调器和路由器等通信控制设备的指示灯和数字显示应用,开发出针对微发光应用进行了优化的1608尺寸(1.6mm×0.8mm)LED“CSL1901系列”。 新产品利用罗姆自有的元器件技术优势,使2mA发光时实现出色的产品特性,减少了微发光时的亮度和色度等视觉差异,有助于缩减调光设计工时,也有助于提高指示灯和数字显示器的视认性。看视频参与有奖问答请戳:https://rohm.eefocus.com/module/forum/thread-629277-1-1.html

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碳化硅比热容:技术现状与未来发展方向探析

碳化硅(SiC)的比热容是其关键物理性质,随温度变化而展现独特优势,尤其在高温应用中。当前,通过实验测定和理论计算,科学家们已对碳化硅的比热容进行了深入研究,揭示了其随温度升高的增大趋势及受纯度、晶粒大小、制备工艺影响的规律。

MOS管过流保护:技术难点与保护原理深探

MOS管过流保护的核心原理是通过监测负载电流,并在电流超过设定阈值时切断MOS管的导通状态,以防止电路受损。实现这一保护的关键在于使用过流检测电阻和比较器来检测和控制电流。在实际应用中,还需考虑SOA等辅助电路以增强保护效果。

探索碳化硅比热容:材料性能与温度变化的奥秘

碳化硅(SiC)的比热容是其关键热学性质,随温度升高而增大,展现了在高温环境下的出色热稳定性。SiC的比热容受纯度、晶体结构和颗粒大小等因素影响。高比热容使SiC在电子器件、陶瓷材料和核反应堆等领域有广泛应用。通过控制晶粒尺寸、减少杂质、引入高导热第二相材料和表面改性,可优化SiC的热性能。

锂电池内阻揭秘:技术原理深度解析

锂电池的内阻是影响其性能和使用寿命的关键因素,通过IMP内阻技术可以精确测量。该技术基于充放电过程中的电压和电流变化关系推算内阻,并考虑温度、充放电状态等因素。电池的结构设计、原材料性能、制程工艺以及工作环境和使用条件均会影响锂电池内阻。极耳布局、隔膜结构、电极材料性能、制程工艺控制精度以及温度等因素共同决定了内阻的大小。

IGBT米勒效应:成因与影响缓解策略探讨

IGBT米勒效应是IGBT在工作时因内部电容效应导致输入端信号变化影响输出端电压和电流的特殊现象。它揭示了IGBT内部结构与外部电路间的相互作用,影响器件性能。为降低米勒效应,可选择合适晶体管和阈值设置,优化电路布局,采用负门极驱动方式或高频变换器技术。米勒效应对IGBT的放大倍数有显著影响,需在设计和分析中充分考虑。