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【BM1Z002FJ-EVK-002】过零检测测试

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2024-1-20
发表于 2022-6-29 13:39:32 | 显示全部楼层 |阅读模式
本帖最后由 y369369 于 2022-6-29 13:42 编辑

【BM1Z002FJ-EVK-002】过零检测测试

有幸申请到罗姆社区提供的BM1Z002FJ-EVK-002过零检测板子,今天我们就来测一测,仪器:示波器,高压套头,NF电源,直流电源。

BM1ZxxxFJ系列”是能够实现过零检测的IC。由于无需光耦就可以进行过零检测,因此功耗极低,可将正常通电时的过零检测电路的待机功耗降至0.01W。另外,在驱动应用时,将以往使用光耦的过零检测电路中随AC电压变化而波动的延迟时间误差降至±50µs以内。传统的过零检测电路由光耦和晶体管组成,其待机功耗约占整个应用的待机功耗的1/2。此次,ROHM通过分析全球数百种电源模式和应用环境,成功开发出无光耦的过零检测IC。不仅可削减部件数量,还使过零检测电路的待机功耗无限接近零(仅0.01W)

现在打开板子,接上线试试:


11.png
板子的正面
13.jpg
我选择的是隔离型焊接了光耦,接上220V的接线柱,就可以开始进行测试了。

用公司的老示波器测一下:

16.jpg
评估板输出波形
17.jpg
过零检测新号都是正常的

综上测试来说,这款芯片电路结构简单非常小巧,支持电压范围宽,过零点相位几乎无滞后,优势相对还是比较明显的。


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